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***************PHS35L網絡分析儀*******************

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PHS35L網絡分析儀渠道商介紹,現代網絡分析儀已廣泛在研發，生產中大量使用，網絡分析儀被廣泛地應用于分析各種不同部件 ，材料，電路，設備和系統。無論是在研發階段為了優化模擬電路的設計，還是為了調試檢測電子元器件，矢量網絡分析儀都成為一種不可缺少的測量儀器。



在過去的十年中，矢量網絡分析儀由于其較低的成本和**的制造技術，流行度超過了標量網絡分析儀。雖然網絡分析理論已經存在了數十年，但是直到 20世紀80年代早期**臺現代獨立臺式分析儀才誕生。在此之前，網絡分析儀身形龐大復雜，由眾多儀器和外部器件組合而成，且功能受限。



網絡是一個被高頻率使用的術語，有很多種現代的定義。就網絡分析而言，網絡指一組內部相互關聯的電子元器件。網絡分析儀的功能之一就是量化兩個射頻元件間的阻抗不匹配，**限度地提高功率效率和信號的完整性。每當射頻信號由一個元件進入另一個時，總會有一部分信號被反射，而另一部分被傳輸。







這就好比光源發出的光射向某種光學器件，例如透鏡。其中，透鏡就類似于一個電子網絡。根據透鏡的屬性，一部分光將反射回光源，而另一部分光被傳輸過去。根據能量守恒定律，被反射的信號和傳輸信號的能量總和等于原信號或入射信號的能量。在這個例子中，由于熱量產生的損耗通常是微不足道的，所以忽略不計。



我們可以定義參數反射系數(G)，它是一個包含幅值和相位的矢量，代表被反射的光占總(入射)光的比例。同樣，定義傳輸系數(T)代表傳輸的光占入射光的矢量比。



通過反射系數和傳輸系數，你可以更深入地了解被測器件(DUT)的性能。回顧光的類比，如果DUT是一面鏡子，你會希望得到高反射系數。如果 DUT是一個鏡頭，你會希望得到高傳輸系數。而太陽鏡可能同時具有反射和透射特性。



電子網絡的測量方式與測量光器件的方式類似。網絡分析儀產生一個正弦信號，通常是一個掃頻信號。DUT響應時，會傳輸并且反射入射信號。傳輸和反射信號的強度通常隨著入射信號的頻率發生變化。



DUT對于入射信號的響應是DUT性能以及系統特性阻抗不連續性的表征。例如，帶通濾波器的帶外具有很高的反射系數，帶內則具有較高的傳輸系數。如果DUT 略微偏離特性阻抗則會造成阻抗失配，產生額外的非期望響應信號。我們的目標是建立一個精確的測量方法，測量DUT響應，同時**限度的減少或**不確定性。



網絡分析儀測量方法



反射系數(G)和傳輸系數(T)分別對應入射信號中反射信號和傳輸信號所占的比例。圖3示意了這兩個向量。現代網絡分析基于散射參數或S-參數擴充了這種思想。



S-參數是一種復雜的向量，它們代表了兩個射頻信號的比值。S-參數包含幅值和相位，在笛卡爾形式下表現為實和虛。S-參數用S坐標系表示，X 代表DUT被測量的輸出端，Y代表入射RF信號激勵的DUT輸入端。下圖示意了一個簡單的雙端口器件，它可以表征為射頻濾波器，衰減器或放大器。





S11定義為端口1反射的能量占端口1入射信號的比例，S21定義為傳輸到DUT端口2 的能量占端口1入射信號的比例。參數S11和S21為前向S-參數，這是因為入射信號來自端口1的射頻源。對于從端口2入射信號，S22為端口2反射的能量占端口2入射信號的比例，S12為傳輸到DUT端口1的能量占端口2入射信號的比例。它們都是反向S-參數。



你可以基于多端口或者N端口S-參數擴展這個概念。例如，射頻環形器，功率分配器，耦合器都是三端口器件。你可以采用類似于雙端口的分析方法測量和計算S-參數，如S13,S32,S33。S11，S22, S33等下標數字一致的S-參數表征反射信號，而S12,S32,S21和S13等下標數字不一致的S-參數表征傳輸信號。此外，S-參數的總個數等于器件端口數的平方，這樣才能完整的描述一個設備的RF特性。



表征傳輸的S-參數，如S21，類似于增益，插入損耗，衰減等其它常見術語。表征反射的S-參數，如S11，對應于電壓駐波比(VSWR)，回波損耗，或反射系數。S-參數還具有其他優點。它們被廣泛認可并應用于現代射頻測量。你可以很容易地將S-參數轉換成H、Z或其他參數。你也可以對多個設備進行S-參數級聯，表征復合系統的RF特性。更重要的是，S參數用比率表示。因此，你不需要把入射源功率設置為精確值。DUT的響應會反映出入射信號的任何微小差別，但通過比率方式表征傳輸信號或反射信號相對于入射信號的比率關系時，差別就會被消去。

資訊來源：汕頭羅克自動化